絕緣材料高電壓耐擊穿性能試驗儀
絕緣材料高電壓耐擊穿性能試驗儀-擊穿的原理
擊穿是電介質(zhì)的基本性能之一，標(biāo)志著它在電場作用下保持絕緣性能的極限能力，是決定電力設(shè)備、電子元器件zui終使用壽命的重要因素。介質(zhì)擊穿電壓的大小與材料的組成、厚度、環(huán)境條件及電極形狀、布置等有關(guān)。均勻電場下，單位厚度電介質(zhì)的擊穿電壓(MV/m)稱為電介質(zhì)擊穿場強，又稱介電強度。一些常用電介質(zhì)在室溫下的介電強度如表所示。當(dāng)電介質(zhì)中含有水分、氣泡及細(xì)微雜質(zhì)時，常使擊穿場強降低。
加在電介質(zhì)上的電場強度超過某一臨界值時，電介質(zhì)的絕緣性能*喪失的現(xiàn)象。介質(zhì)擊穿時，通過介質(zhì)的電流集中于細(xì)小的通道流過。固體電介質(zhì)擊穿時，擊穿通道的高密度電流常使材料發(fā)生不可逆的破壞。氣體電介質(zhì)擊穿和液體電介質(zhì)擊穿時，往往出現(xiàn)電火花，甚至電弧，但外電壓去除后，絕緣性仍可恢復(fù)。
絕緣材料高電壓耐擊穿性能試驗儀體積效應(yīng)-
電介質(zhì)的擊穿電壓隨其體積增大而下降的現(xiàn)象。電介質(zhì)的擊穿電壓受電介質(zhì)中的缺陷、雜質(zhì)等因素的影響而變動。例如對具有較大量液體電介質(zhì)的電極-電介質(zhì)系統(tǒng),雜質(zhì)分布于整個體積，隨著高場強下的液體電介質(zhì)體積的增加，雜質(zhì)影響擊穿電壓的概率增大，擊穿電壓下降。又如，對高聚物固體電介質(zhì)，缺陷分布于整個體積，當(dāng)電介質(zhì)體積增大時，缺陷影響電介質(zhì)擊穿的概率也增加，擊穿電壓下降。
對具有體積效應(yīng)的電介質(zhì)，可看作是許多體積較小電介質(zhì)的組合，擊穿電壓的概率分布遵循貢貝爾分布或韋布爾分布。
絕緣材料高電壓耐擊穿性能試驗儀定義
加在電介質(zhì)上的電場強度超過某一臨界值時，電介質(zhì)的絕緣性能*喪失的現(xiàn)象。介質(zhì)擊穿時，通過介質(zhì)的電流集中于細(xì)小的通道流過。固體電介質(zhì)擊穿時，擊穿通道的高密度電流常使材料發(fā)生不可逆的破壞。氣體電介質(zhì)擊穿和液體電介質(zhì)擊穿時，往往出現(xiàn)電火花，甚至電弧，但外電壓去除后，絕緣性仍可恢復(fù)。
整機組成：
1、升壓部件：由調(diào)壓器和高壓變壓器組成0～50KV的升壓部分。
2、動部件：由步進(jìn)電機均勻調(diào)節(jié)調(diào)壓器使加給高壓變壓器的電壓變化。
3、檢測部件：由集成電路組成的測量電路。通過信號線把檢測的模擬信號和開關(guān)信號傳給計算機。
4、計算機軟件：通過智能電路把由檢測設(shè)備采集的測控信號傳給計算機。計算機根據(jù)采集的信息控制設(shè)備運行并處理試驗結(jié)果。
5、試驗電極：根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)(1408.1-2006)隨設(shè)備提供三個電極，具體規(guī)格為：Ф25mm×25mm兩個；Ф75mm×25mm一個。
技術(shù)指標(biāo)：
01、輸入電壓： 交流 220 V
02、輸出電壓： 交流 0--50 KV ;
直流 0—50 KV
交直流試驗的切換
1）本儀器高壓輸出為交流電壓。直流的獲得方式為在原回路中串入高壓硅堆，使測試回路為脈動的直流電壓。實現(xiàn)的過程為，硅堆已經(jīng)在高壓變壓器的高壓絕緣塔中，平時用一個短路桿把高壓硅堆短接。需要直流試驗時，取出短路桿，使高壓硅堆接入測試電路中，這時回路的電壓為脈動的直流電壓。
2）前面板直流交流選擇按鈕。該按鈕的狀態(tài)不能改變設(shè)備輸出的電壓性質(zhì)。按下該按鈕，設(shè)備僅僅是把直流報警電路接入。指示用戶，當(dāng)打開箱門時，您需要對高壓均壓球放電。轉(zhuǎn)動放電桿，使放電桿的端部銅球接觸高壓均壓球。建議用戶每次放電銅球接觸高壓均壓球時間大于五秒。
3）試驗的交直流電壓切換，主要取決于高壓絕緣塔中的短路桿是否取出。當(dāng)取出短路桿時，高壓均壓球上的電壓為直流電壓，插入短路桿時，高壓均壓球上的電壓為交流電壓。短路桿的取出、插入?yún)⒖醋髠?cè)的示意圖。
4）在直流試驗時，計算機也要選擇直流狀態(tài)，否則測的結(jié)果是不正確的。簡單的說，交流電壓與直流電壓有倍的關(guān)系。
標(biāo)簽：
電壓擊穿試驗儀 、
絕緣材料高電壓擊穿強度試驗儀、
耐電壓強度擊穿試驗儀 、
介電強度介電擊穿場強試驗儀
